HOME>PRODUTOS >Instrumento Analítico >Espectrômetro de fluorescência de raios-X(XRF)
O espectrômetro de fluorescência de raios-X (XRF) é um método de medição de material rápido e não destrutivo, usado principalmente para fornecer análise química, elementar e de elementos traço, tem a capacidade de quantificar ou qualificar de forma não destrutiva quase qualquer elemento de magnésio a urânio. É amplamente utilizado em análise elementar e análise química, especialmente na investigação e pesquisa de metais, vidro, cerâmica e materiais de construção, geoquímica, forense, arqueologia e obras de arte, como pinturas a óleo e murais. Comparado com outras técnicas analíticas, o XRF requer pouca ou nenhuma preparação de amostra e é de baixo custo.